Viele unserer Mitglieder sind im Bildungsbereich tätig, um den Nachwuchs zu erreichen und das Interesse zu fördern. FRT bemüht sich z.B. mit Praktika und Vortragsreihen an Schulen.

Geförderte Schülerprojekte werden von unserem Mitglied PTB bearbeitet. Sie dienen der Ausbildung und Weiterbildung. Die Bausätze für die Rastersondenmikroskopie sollen Bildungseinrichtungen zur Verfügung gestellt werden. Die  Entwicklung des Rasterkraftmikroskopes wird von der Arbeitsgemeinschaft der Nanotechnologie-Kompetenzzentren Deutschlands AGeNT-D gefördert. Das Rasterkraftmikroskop wird zur Zeit erprobt und ist als Bausatz noch nicht verfügbar. Die Betreuung des Aufbaus und Betriebs des Rastertunnelmikroskop-Bausatzes wurde eingestellt.

Die Messung der Geometrie von Mikro- und Nanostrukturen ist für die Nanotechnologie wichtig, da die physikalischen und chemischen Eigenschaften kleiner Objekte unmittelbar durch deren Abmessungen beeinflusst werden. Eine direkte Untersuchung dieser Strukturen stellt allerdings eine Herausforderung dar, da selbst Lichtmikroskope keinen direkten Blick auf die Feinheiten erlauben. Stattdessen geschieht deren Untersuchung mit so genannten Rasterkraftmikroskopen. Diese verwenden Nanometer-feine Messspitzen, um die Oberflächen zeilenweise abzurastern. Im Computer werden diese Informationen als Zahlenmatrix abgelegt und zu einem dreidimensionalen Bild zusammengesetzt.

Das Rastertunnelmikroskop

In den frühen 80er Jahren entwickelten Gerd Binnig und Heinrich Rohrer ein Gerät, das erstmals einen Einblick in die Welt des Mikro- und Nanokosmos von Oberflächen ermöglichte. Sie erfanden das Rastertunnelmikroskop (STM, engl. Scanning Tunneling Microscope) mit dem leitfähige und relativ glatte Oberflächen gemessen werden können. Dafür verlieh ihnen die schwedische Akademie 1986 den Nobelpreis für Physik.