Nanoanalytik in der Praxis: Nano- und Mikrobereichsanalyse von Oberflächen und Materialien

Nanoanalytik in der Praxis:
Nano- und Mikrobereichsanalyse von Oberflächen und Materialien

Das Portfolio der analytischen Techniken und die Nanometer-Dimension werden kontinuierlich erweitert und erschlossen.
Hier erfahren Sie alles über neuere nano- und oberflächenanalytische Methoden:

Analytische Techniken

- Rasterelektronenmikroskopie (REM)
- Photoelektronenmikroskopie (XPS, ESCA)
- Rasterkraftmikroskopie (AFM, SXM)
- Sekundärionenmassenspektrometrie ((ToF-)SIMS)
- Ionenstreuungsspektroskopie (ISS, LEIS)

Anwendungsbereiche

- Produktentwicklung
- Produktions- und Qualitätskontrolle
- Fehleranalytik

Weitere Details zur Veranstaltung bekommen Sie HIER