Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2011
Veranstaltung
- Titel:
- Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2011
- Wann:
- Di, 25. Oktober 2011 - Mi, 26. Oktober 2011
- Wo:
- Erlangen - Erlangen
- Kategorie:
- Info extern
Beschreibung
Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2011
Hochkarätige Experten aus Industrie und Wissenschaft geben auf der 4. Fachtagung einen Einblick in den aktuellen Stand von Messprinzipien, Grundlagen und Anwendungen im Bereich der Mikro- und Nanotechnologie. Diskutiert werden neben den bestehenden Möglichkeiten der Technologien auch die zukünftigen Entwicklungspotenziale.
Zu folgenden Themen werden Vorträge gehalten:
- Nanomess- und Positioniertechnik
- Erfassung Oberflächen und Volumen (taktil, optisch, Rastersonden, CT)
- Auswertung (Normen-Richtlinien, Modellierung)
- Rückführung
- Anwendungen
Weitere Informationen finden Sie direkt bei dem Veranstalter unter folgendem Link:
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