Schülerprojekte
Erläuterungen
Der 13 jährige Luke versuchte, die Papier-Schiffchen immer kleiner zu falten, bis sie mehrfach auf ein 1-Cent Stück passten. Das Falten solcher "Zwerge" ist wirklich eine großartige Leistung. Versuchen Sie es doch einmal!
Damit ist der erste Schritt getan, die Welt des Winzigen und Hochgenauen fühlbar und fassbar zu machen.
Wir unterstützen es, dass der Nachwuchs frühzeitig und gezielt an Technologien herangeführt wird, denn Bildung und Ausbildung sind wesentliche Grundpfeiler unserer Industriegesellschaft. Das Verständnis und der Umgang z.B. mit der Nanotechnologie sollten bereits während der Schulzeit vermittelt werden.
Viele unserer Mitglieder sind im Bildungsbereich tätig, um den Nachwuchs zu erreichen und das Interesse zu fördern. FRT bemüht sich z.B. mit Praktika und Vortragsreihen an Schulen.
Die geförderten Schülerprojekte wurden von unserem Mitglied PTB bearbeitet. Sie dienen der Ausbildung und Weiterbildung. Die Bausätze für die Rastersondenmikroskopie sollen Bildungseinrichtungen zur Verfügung gestellt werden. Die Entwicklung des Rasterkraftmikroskopes wurde bis 2011 von der Arbeitsgemeinschaft der Nanotechnologie-Kompetenzzentren Deutschlands AGeNT-D gefördert. Das Rasterkraftmikroskop wird zur Zeit erprobt und ist als Bausatz noch nicht verfügbar. Die Betreuung des Aufbaus und Betriebs des Rastertunnelmikroskop-Bausatzes wurde eingestellt.
Viele Unternehmen und Einrichtungen sind sich einig: "Unser Nachwuchs muss einfach für die Themen Wissenschaft und Technik begeistert werden!". Das Internet bietet dazu viele Möglichkeiten. Unser Partner, das PhotonicNet, hat unter der Leitung von Herrn Dr. Fahlbusch einige interessante Experimente zum Thema "Optik" zusammengestellt. Lassen Sie sich doch einmal für ein paar Minuten durch "Experimente aus der Gießkanne" vom Licht faszinieren...
Bausatz eines Rasterkraftmikroskops
Die Messung der Geometrie von Mikro- und Nanostrukturen ist für die Nanotechnologie wichtig, da die physikalischen und chemischen Eigenschaften kleiner Objekte unmittelbar durch deren Abmessungen beeinflusst werden. Eine direkte Untersuchung dieser Strukturen stellt allerdings eine Herausforderung dar, da selbst Lichtmikroskope keinen direkten Blick auf die Feinheiten erlauben. Stattdessen geschieht deren Untersuchung mit so genannten Rasterkraftmikroskopen. Diese verwenden Nanometer-feine Messspitzen, um die Oberflächen zeilenweise abzurastern. Im Computer werden diese Informationen als Zahlenmatrix abgelegt und zu einem dreidimensionalen Bild zusammengesetzt.
Bausatz eines Rastertunnelmikroskops
Das Rastertunnelmikroskop
In den frühen 80er Jahren entwickelten Gerd Binnig und Heinrich Rohrer ein Gerät, das erstmals einen Einblick in die Welt des Mikro- und Nanokosmos von Oberflächen ermöglichte. Sie erfanden das Rastertunnelmikroskop (STM, engl. Scanning Tunneling Microscope) mit dem leitfähige und relativ glatte Oberflächen gemessen werden können. Dafür verlieh ihnen die schwedische Akademie 1986 den Nobelpreis für Physik.